Spektroskopie und Mikroskopie mit weichen Röntgenstrahlen
Homepage: Soft X-Ray Spectroscopy and Microscopy
Die Arbeitsgruppe forscht auf dem Gebiet der Entwicklung und Anwendung neuartiger Quellen der XUV-Strahlung mit einem hohen Photonenfluss sowie Quellen der weichen Röntgenstrahlung. Sie werden ermöglicht durch Erzeugung hohen Harmonischen mittels leistungsfähiger femtosekunden Faserlaser. Dadurch entstehen einzigartige kompakte Strahlungsquellen, die auf ein Labortisch passen und sich für die Spektroskopie an hochgeladenen Ionen sowie Mikroskopie mit Nanometerauflösung eignen.
Kontakt
Dr. Jan Rothhardt
Fax: +49 3641 947-802
j.rothhardt(at)hi-jena.gsi.de
Institut für Angewandte Physik
Friedrich-Schiller-Universität Jena
Albert-Einstein-Straße 15
07745 Jena
Tel:
+49 3641 947-818
Friedrich-Schiller-Universität Jena
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Fax: +49 3641 947-802
j.rothhardt(at)hi-jena.gsi.de